FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®

Рентгенофлуоресцентный спектрометр для ручных и автоматических неразрушающих измерений толщины покрытий и анализа состава материала в печатных платах, электронных компонентах и продукции массового производства, в том числе, и компонентов малого размера.

Особенности

• Прибор универсален благодаря наличию микрофокусной трубки, блока коллиматоров и 3 фильтров
• Подходит для малых образцов, например, контактов разъемов и печатных плат
• Возможны измерения на больших расстояниях
• Большая и просторная измерительная камера с выключателем (C-slot)
• Наличие программируемого стола для автоматических измерений

Области применения

• Измерение тонких покрытий из золота, палладия, никеля при производстве печатных плат
• Измерение покрытий разъемов и контактов
• Измерение функциональных покрытий в электронной и полупроводниковой промышленности
• Производство ювелирных изделий, золота и часов