GEKKO - ультразвуковой дефектоскоп на фазированных решётках возможностью реализации метода TOFD

Построение изображения в режиме В-скан

Секторное и линейное сканирование

Датчики на фазированной решетке (ФАР) состоят из множества пьезоэлектрических элементов, которые могут активироваться последовательно или с задержкой по времени. Акустические поля от нескольких элементов накладываются друг на друга (формируется та к называемый виртуальный датчик). Таким образом полученное акустическое поле можно перемещать (линейное сканирование) или вращать его (секторное сканирование). Прибор позволяет генерировать как продольные, так и поперечные волны, а также поверхностные и головные. Электронная фокусировка акустического поля на заданной глубине или диапазоне глубин позволяет воспроизводить результаты В-сканирования (поперечное сечение перпендикулярно поверхности) с высоким разрешением.

В примере, приведенном выше, показаны результаты линейного и секторного сканирования ряда отверстий на образце, изготовленным в соответствии со стандартом ASTM. Дефектоскопы GEKKO также имеют функцию настройки амплитуды отраженного сигнала для всех траекторий и углов ультразвука к одинаковому значению. Боковое пространственное разрешение равно диаметру фокусируемого акустического поля. Секторное и линейное сканирование являются стандартными видами В-скана.
С новым методом абсолютной фокусировки могут быть получены изображения еще более высокого разрешения: