Толщиномер покрытий X-STRATA 920
Толщиномер покрытий X-STRATA 920
Толщиномер X-STRATA 920 - это рентгено-флюоресцентная система с возможностью микрофокусировки для неразрушающего контроля, быстрых анализов примесных материалов, измерения толщин многослойных покрытий элементного состава в широком спектре материалов, измеряемые элементы от Ti22 до U92:
|
- Анализ маленьких образцов площадью от 150 мкм.
- Анализ растворов
- Анализ покрытий на образцах неровной формы (печатные платы, проволока и т.д.)
- Обнаружение вредных примесей на уровне 10-3 – 10-4 %
- Экспорт результатов в Excel, Программа для создания отчетов
- Гибкое программное обеспечение на базе Метода Фундаментальных Параметров SmartLink® FP на базе платформы Windows® XP, со встроенным генератором отчетов Report Generator LE
- Измерение толщины до 5 слоев (4 слоя плюс основа) / 15 элементов / межэлементная коррекция
- Одновременный анализ до 25 химических элементов
- Аналитические методы в соответствии с ISO 3497, ASTM B568, DIN 50987 и IEC 62321
- Oxford Instruments самостоятельно изготавливает рентгеновскую трубку мощностью 50W (вольфрам) которая сочетает в себе высокую стабильность, более короткое время измерения, надежность и длительный срок жизни.
- Высокое разрешение Xe пропорционального детектора обеспечивает оптимальную эффективность счета на любых уровнях энергий и улучшает диапазон обнаружения элементов
- 4096 каналов цифрового многоканального анализатора обеспечивают высокую скорость проходящего сигнала, коррекцию времени простоя и пульсаций для лучшей статистики измерений
- Термическая стабилизация и программная функция Spec-Cal, возможность внутреннего тестирования и автоматическая коррекция, обеспечивают хорошую стабильность во времени
- Коллиматор 0,3 мм обеспечивает оптимальную фокусировку потока, расширяя возможности измерения (заказывается дополнительно)
- Приспособление для первичной фильтрации оптимизирует условия возбуждения и улучшает соотношений сигнал/шум
- Лазер автоматически определяет правильное положение фокуса по оси Z на определенном расстоянии от анализируемой поверхности, улучшая тем самым точность результата
- Размеры измерительного стола: 560 мм х 600 мм, максимальная высота образца 33 мм (возможно 160 мм)
- Oxford Instruments поставляет сертифицированные стандарты (по толщинам) обеспечивая надежность результатов
- Надежный и прочный корпус позволяет эксплуатировать анализатор в производственных условиях
- Компактный дизайн позволяет разместить анализатор на небольшой рабочей поверхности
- Сервисная поддержка по всему миру осуществляется экспертами в области рентгеновской флюоресценции
- Анализатор является высочайшим достижением за более чем 25-ти летний опыт работы Oxford Instruments.
Примеры применения X-STRATA 920
1. Производство электроники и электронных компонентов
- Определение химического состава и толщины покрытий
- Измерение толщины слоя Au и Pd на контактах печатных плат
- Измерение толщины слоя химического никеля на жестких дисках
- Анализ очень тонких слоев покрытия (Au/Pd < 0,1 мкм)
- Послойное измерение толщины по 5 слоям (4 слоя покрытия + основание)
- Одновременно анализ химического состава по 25 элементам
- Анализ гальванических растворов
- Быстрый, неразрушающий анализ химического состава изделий из драгоценных металлов (Au, Ag, Pt, Pd и т.д.)
- Анализ химического состава цветных сплавов (Cu, Zn и т.д.)
Другие товары
Рентгенофлуоресцентный толщиномер покрытий Maxxi 5
Закрыть
Рентгенофлуоресцентный толщиномер покрытий Maxxi 5
Рентгенофлуоресцентный толщиномер покрытий Compact
Закрыть
Рентгенофлуоресцентный толщиномер покрытий Compact
Рентгенофлуоресцентный толщиномер покрытий Maxxi 6
Закрыть
Рентгенофлуоресцентный толщиномер покрытий Maxxi 6